手机盖板可靠性测试标准是什么？具体有哪些测试项目，手机在设计、生产和推向市场期间会经过哪些可靠性测试呢？手机盖板可靠性是通过各类试验进行验证分析的，在设计定型前，对手机进行鉴定试验，验证手机盖板是否达到规定的可靠性指标。对批量生产的手机在交付使用时，要通过验收试验来对手机的可靠性进行验收。在手机的使用阶段，为了了解手机使用的可靠性水平，要进行手机试用试验等。可见，可靠性试验贯穿于手机的全寿命之中，可靠性试验是评价手机可靠性的一个重要手段。

影响产品可靠性的极其重要的因素是环境。环境因素多种多样：温度、湿度、压力、辐射、降雨、风、雷、电、盐雾、砂尘、振动、冲击、噪声、电磁辐射等，都不可避免地对电子产品产生不良影响。

可靠性测试包括六个部分：加速寿命测试，气候适应测试，结构耐久测试，表面装饰测试，特殊条件测试，及其他条件测试。

1.1.加速寿命测试ALT(AcceleratedLifeTest)

样机标准数量：

PR1：8台PR2：10台PR3：10台PIR：10台

试验周期：10-12天

测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。

试验流程：见下图，其中ThermalShock和1stDrop测试的时间间隔应不超过4小时;Temp/Humidity和2ndDrop测试的时间间隔应不超过4小时。每项测试完成都应进行表面，外观，结构和功能检查。

测试标准：参数指标正常，功能正常。

1.1.1室温下参数测试(ParametricTest)

测试环境：室温(20~25°C);

测试目的：测试预检查

测试方法：使用/测试仪，参照附件1(下同)项目列表，对所有样品进行参数指标预测试并保存测试结果。

1.1.2温度冲击测试(ThermalShock)

测试环境：低温箱：-30°C;高温箱：+10°C

测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选

试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续45分钟后，在15秒内迅速移入低温箱并持续45分钟后，再15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环21次。实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出，恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。

试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打电话。

1.1.3跌落试验(DropTest)

测试条件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。(对于PDA手机,根据所属公司质量部门的建议可调整为跌落高度为1.3m)

测试目的：跌落冲击试验

试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。对于直握手机，进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，进行8个面的自由跌落实验;其中一半样品合上翻盖按直握手机的方法进行跌落，另一半样品在跌正面和背面时须打开翻盖;对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。

试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。

1.1.4振动试验(VibrationTest)

测试条件：振幅：0.38mm/振频：10~30Hz;振幅：0.19mm/振频：30~55Hz;

测试目的：测试样机抗振性能

试验方法：将手机开机放入振动箱内固定夹紧。启动振动台按X、Y、Z三个轴向分别振动1个小时，每个轴振完之后取出进行外观、结构和功能检查。三个轴向振动试验结束后，对样机进行参数测试。

试验标准：振动后手机内存和设置没有丢失现象，手机外观，结构和功能符合要求，参数测试正常，晃动无异响。

1.1.5湿热试验(HumidityTest)

测试环境：60°C，95%RH

测试目的：测试样机耐高温高湿性能

试验方法：将手机处于关机状态，放入温湿度实验箱内的架子上，持续60个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖;对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。

1.1.6静电测试(ESD)

测试条件：+/-4kV~+/-8kV。

测试目的：测试样机抗静电干扰性能

试验方法：

将样机设置为开机状态，检查样机内存和功能。(内存10条短信息和10个电话号码;使用功能正常)。将样机放于静电测试台的绝缘垫上，并且用充电器加电使手机处于充电状态(样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸;两个样机之间的距离也是至少2英寸)。

打开静电模拟器，调节放电方式，分别选择+/-4kV(接触放电)，~+/-8kV(空气放电)，对手机指定部位连续放电10次，并对地放电。每做完一个部位的测试，检查手机功能、信号和灵敏度，并观察手机在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD显示异常，自动关机及其他异常现象。

样机需在与测试仪建立起呼叫连接的状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试。